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緊湊型高精度反射膜厚儀系列
- 關(guān)鍵字：
- 高精度
- 型號：
- TFMS-IV
- 產(chǎn)品概述：
- TFMS-IV系列緊湊型高精度反射膜厚儀，利用光學(xué)干涉原理，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射譜，快速準(zhǔn)確測量薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)等信息。反射膜厚儀廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)保護膜、有機薄膜、無機薄膜、金屬膜、涂層等薄膜測量。
免責(zé)聲明：
本站產(chǎn)品介紹內(nèi)容（包括產(chǎn)品圖片、產(chǎn)品描述、技術(shù)參數(shù)等）僅用于宣傳用途，僅供參考。由于更新不及時和網(wǎng)站不可預(yù)知的BUG可能會造成數(shù)據(jù)與實物的偏差，請勿復(fù)制或者截圖。如果您對參數(shù)有異議，或者想了解產(chǎn)品詳細(xì)信息及更多參數(shù)，請與本公司銷售人員聯(lián)系。本站提供的信息不構(gòu)成任何要約或承諾，請勿將此參數(shù)用于招標(biāo)文件或者合同，科晶公司會不定期完善和修改網(wǎng)站任何信息，恕不另行通知，請您諒解。
如果您需要下載產(chǎn)品的電子版技術(shù)文檔，說明書（在線閱覽），裝箱單，與售后安裝條件等文件，請點擊上方的附件下載模塊中選取。商城產(chǎn)品僅針對大陸地區(qū)客戶，購買前請與工作人員溝通，以免給您帶來不便。
技術(shù)參數(shù)產(chǎn)品視頻實驗案例警示/應(yīng)用提示配件詳情
| 產(chǎn)品型號
|
TFMS-IV系列緊湊型高精度反射膜厚儀 |
| 主要特點
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1、光學(xué)薄膜測量解決方案 2、非接觸、非破壞測量 3、覆蓋單層到多層薄膜 4、核心算法覆蓋薄膜到厚膜 5、配置靈活、支持定制化 6、采用高強度鹵素?zé)艄庠矗庾V覆蓋可見光到近紅外范圍 7、采用光機電高度整合一體化設(shè)計，體積小，操作簡便 8、基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理，輕松解析單層薄膜到多層 9、配置強大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲線擬合分析法分析薄膜的物理參數(shù)信息 |
| 技術(shù)參數(shù)
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| 型號 | TFMS-IV | TFMS-IV（可選） | | 基本功能 | 獲取薄膜厚度值以及R、N/K（可選）等光譜 | | 光譜波長范圍 | 380-800nm | 650-1100nm（可選） | | 測量厚度范圍 | 50nm-20um | 100nm-200um（可選） | | 測量時間 | <1s | | 光斑尺寸 | 0.5-3mm | | 重復(fù)精度 | 0.1nm（100nmSiO2/Si） | | 絕對精度 | ±1nm or 0.5% | | 入射角方式 | 垂直入射 |
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| 可選配件
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1、溫控臺 2、Mapping擴展模塊 3、真空泵 |
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